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锁相放大器在黑磷中激子凝聚与超流性研究实验中的应用

作者:Aigtek 阅读数:0 发布时间:2026-09-10 15:09:15

实验名称:黑磷中激子凝聚与超流性的观测研究

实验目的:本研究旨在通过双栅极少层黑磷器件,结合傅里叶变换红外光电流光谱技术,观测激子绝缘体态的形成特征,验证其光谱突变与电荷压缩率突变的相变判据,确认激子凝聚态呈现的类BCS温度依赖关系及临界温度,并通过本征光电流消失现象论证激子玻色子超流性的存在,为强关联多体物理研究提供新的实验平台。

测试设备:X傅里叶变换红外光谱仪、中红外超连续激光光源、40×/0.5NA反射式显微物镜、低温光学恒温器、半导体分析仪、低噪声电流前置放大器、锁相放大器(ATA-5810)、光电斩波器、振镜扫描系统、红外中性密度滤光片组、标准电子束光刻与蒸发镀膜设备。

实验过程:首先采用干转移工艺制备双栅极少层黑磷异质结构,以hBN作为上下封装层,石墨烯作为源漏及栅极电极,并在惰性氛围中完成Cr/Au欧姆接触的制作。随后将器件置于闭循环低温恒温器中降温至5K,搭建傅里叶变换红外光电流测试系统;利用迈克尔逊干涉仪调制中红外激光,经40倍显微物镜聚焦于器件表面(光斑约9μm)。实验过程中,通过半导体分析仪同步调控顶/底栅电压以改变垂直电位移场,利用宽带激光进行光泵浦以产生非平衡电子-空穴对。在此基础上,系统开展了不同黑磷厚度、不同光泵浦功率下的光谱扫描,重点针对8-10层样品进行了电位移场扫描以捕捉相变信号,并完成了5K至20K以上的变温测试以确定临界温度。

器件结构与测量装置

图1:器件结构与测量装置

(a)傅里叶变换红外光电流光谱仪系统示意图(b)左图:hBN封装的双栅极黑磷(BP)器件横截面。

右图:典型器件的光学显微照片。(c)图(b)中器件的光电流映射图。

实验结果:在适度的电位移场与光泵浦条件下,8-10层黑磷器件的光电流谱发生了显著突变:由宽带的连续吸收响应急剧转变为单一尖峰响应,同时电荷压缩率(∂I/∂Vg)出现跃升,标志着系统完成了金属相到激子绝缘体相的转变。理论计算表明,随着电位移场增强,黑磷带隙逐渐闭合,当激子结合能超过带隙时即诱发相变。温度依赖性测试显示,该激子绝缘体态呈现典型的类BCS特征,临界温度约为17K。尤为重要的是,在激子绝缘体形成瞬间,黑磷本征沟道在较宽能量范围内的光电流完全衰减至噪声基底以下,且该“零电流”状态在合理的面内电场扰动下保持稳定,这直接证明了束缚的电子-空穴对以无耗散的超流体形式输运,为激子超流性提供了确凿的实验证据。

黑磷的傅里叶变换红外光电流光谱

图2:黑磷的傅里叶变换红外光电流光谱。

(a)具有不同层数的BP的典型光电流光谱(b)11层样品在不同光泵浦功率下的光电流光谱(c)BP能带色散示意图(d)空间间接激子的能级图解

双栅极BP的位移电场依赖性

图3:双栅极BP的位移电场依赖性

(a)在不同固定的顶栅电压Vtg下,BP电导随底栅电压Vbg变化的函数关系。

对于(b)P=130W/cm2和(c)P=13W/cm2两种泵浦条件,10层BP的归一化光电流光谱作为位移电场函数的演变过程。

瀑布图显示了沿顶部面板白色虚线选取的、在不同位移电场D下的光电流光谱。

红色光谱显示了激子绝缘体(EI)态。黑色三角形标记了空间间接激发峰。


锁相放大器在此应用中的产品优势:

锁相放大器配合低噪声前置放大器,构成了高灵敏度的信号探测核心,能够精准提取微弱的电流信号,是识别“噪声基底级零光电流”这一激子超流关键特征的技术保障。它与傅里叶变换红外光谱系统协同工作,实现了能量分辨的光电流探测,使研究人员能够清晰区分体相激子与空间间接激子的不同吸收通道,从而精准捕捉到相变过程中细微而关键的光谱特征突变。此外,配合半导体分析仪提供的稳定双栅调控,共同完成了对激子凝聚态的全面表征。


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ATA-5810锁相放大器指标参数

图:ATA-5810锁相放大器指标参数

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