芯片老化测试
提供高温应力所需的高压/大电流，加速芯片潜在缺陷的早期失效；
驱动容性/感性负载，稳定驱动这些重负载，保证信号完整性；
产生高频动态应力信号，支持宽频带、快速边沿的时钟或数据信号；
多通道独立输出，灵活配置，提高并行测试效率；
集成保护与监测功能，防止老化过程中芯片短路或异常功耗损坏设备；
降低系统复杂度，缩短开发周期。
相关应用词：
电流传感器频响测试
提升驱动能力，确保器件完全导通或关断；
保证信号保真度，避免波形畸变影响参数测量；
实现高电压/大电流测试，满足击穿电压、饱和压降、导通电阻等极限参数测试需求；
增强动态响应，准确捕获器件在开关过程中的电压/电流波形；
隔离与保护被测器件，可防止测试异常时损坏昂贵的待测芯片或探针台；
简化测试系统搭建，降低系统复杂度与调试时间。
相关应用词： 电流传感器│ 传感器│