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双脉冲是分析功率开关器件动态特性的基础实验方法，贯穿器件的研发，应用和驱动保护电路的设计。今天Aigtek安泰电子就带你揭秘。

为什么要进行双脉冲测试？在以前甚至是今天，许多使用IGBT或者MOSFET做逆变器的工程师是不做双脉冲实验的，而是直接在标定的工况下跑看能否达到设计的功率。这样的测试确实很必要，但是往往这样看不出具体的开关损耗，电压或者电流的尖峰情况，以及寄生导通情况。这会导致对有些风险的认识出现盲点，进而影响最后产品未来的长期可靠性。又或者设计裕量过大带来成本增加，使得产品的市场竞争力下降。如果能在设计研发阶段，精准地了解器件的开关性能，将对整个产品的优化带来极大的好处。比如能在不同的电压、电流和温度下获得开关损耗，给系统仿真提供可靠的数据；又比如可以通过观察波形振荡情况来选择合适的门极电阻。

双脉冲测试原理。顾名思义，双脉冲测试就是给被测器件两个脉冲作为驱动控制信号，如图所示。第一个脉冲相对较宽，以获得一定的电流。同时第一个脉冲的下降沿作为关断过程的观测时刻，而第二个脉冲的上升沿则作为开通过程的观测时刻。

 

 

双脉冲测试非常适合研发阶段对器件在系统上的损耗评估，为系统仿真带来数据支持。毕竟有太多的因素会使实际值和数据规格产生很大差别，用规格书上的值做为仿真依据粗糙了些，当然器件选型的时候还是很值得借鉴的。

本文有关双脉冲测试知识科普由西安安泰电子发布，Aigtek是国内专业从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业，一直专注于功率放大器、功率信号源、功率放大模块、计量校准源等测试仪器产品的研发与制造。如想了解更多有关相关科普，请持续关注安泰电子官网www.aigtek.com或拨打029-88865020。

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